Calibrated Wideband Measurement of Packaged Devices Using Transient Analysis Techniques


FİDANBOYLU K., RIAD S.

3rd Intl. SAMPE Electronics Conf., LOS ANGELES, CALIFORNIA, Amerika Birleşik Devletleri, 20 - 22 Haziran 1989, ss.516-527

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: LOS ANGELES, CALIFORNIA
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.516-527
  • Bursa Uludağ Üniversitesi Adresli: Hayır