Akademik Veri Yönetim Sistemi
Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Bursa Uludağ Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2020
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: Elif Subaşı
Danışman: Mürşide Şafak Hacıismailoğlu
Özet:Bu tez çalışmasında, p-tipi yarıiletken özellik gösteren Cu2O filmler, ITO alttabaka üzerine, pH değeri 10 ve sıcaklığı 500C olan çözelti içinde elektrodepoziyon tekniği kullanılarak üretildi. Depozisyon potansiyeli, dönüşümlü voltammetri tekniği ile belirlendi. Buna göre – 260 mV, - 320 mV, -400 V , -480 mV’ da 500 nm, 1000 nm, 2000 nm kalınlıklarında filmler üretildi. Depozisyon sırasında kaydedilen akım yoğunluğu– zaman geçişleri ile filmlerin çekirdeklenme ve büyüme durumları incelendi. Filmlerin kristal yapı özellikleri X-Işını Difraksiyonu tekniği ile tayin edildi. Üretilen tüm filmlerde Cu2O’ in, kübik yapısının karakteristik pikleri olan ve (110), (111), (200), (220), (311), (222) düzlemlerinden gelen yansımalar elde edildi. Her bir yansımaya ait düzlemler arası uzaklık değerleri, tane boyutları ve filmlerin örgü sabitleri hesaplandı. Düzlemler arası uzaklık ve örgü sabiti değerlerinin teorik değerler ile uyumlu olduğu bulundu. Hesaplanan örgü katsayılarına göre -260 mV’ da 500 nm ve 2000 nm kalınlığında üretilen filmlerin tercihli yönelimi (110), 1000 nm kalınlığındaki filmin ise (200)’ dır. -320 mV’ da üretilen 500 ve 1000 nm kalınlıklı filmler (110) yönelimini tercih ederken 2000 nm kalınlıklı film (111) yönünde kristallendi. -400 mV ve -480 mV’ da tüm kalınlıklarda filmler, (111) tercihli yönelimine sahiptir. Mott-Schottky ölçümlerine göre Cu2O filmleri p tipi yarıiletken özellik gösterir. –260 mV’da kalınlık attıkça düz bant geriliminde azalma gözlenirken -480 mV’da düzgün bir değişim gözlenmedi. Filmlerin hesaplanan taşıyıcı yoğunlukları literatür ile uyumludur. Elektrokimyasal Empedans Spektroskopisi ile çözelti direnci, yük transfer direnci ve difüzyon açısı elde edildi. Filmlerin morfolojik özellikleri, taramalı elektron mikroskobuyla (SEM) analiz edildi. SEM görüntülerine göre Cu2O yapıları küresel görünüme sahiptir. Kalınlık artışıyla tane boyutlarında ve taneler arası mesafede artış, gözlendi.