Post deposition annealing effects on the electrical characteristics of Er2O3 MOS capacitors
Atıf İçin Kopyala
YILMAZ E., KAHRAMAN A.
Turkish Physical Society 33rd International Physcis Congress, 6 - 10 Eylül 2017
-
Yayın Türü:
Bildiri / Özet Bildiri
-
Bursa Uludağ Üniversitesi Adresli:
Evet