Post deposition annealing effects on the electrical characteristics of Er2O3 MOS capacitors

YILMAZ E., KAHRAMAN A.

Turkish Physical Society 33rd International Physcis Congress, 6 - 10 Eylül 2017, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Bursa Uludağ Üniversitesi Adresli: Evet