An Ensemble of Classifiers Approach to Steganalysis

Atıf İçin Kopyala

Sevinç B., DİRİK A. E., SENCAR H. T., Nasir M.

20th International Conference on Pattern Recognition, İstanbul, Türkiye, 23 - 26 Ağustos 2010, ss.4376-4379

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Doi Numarası: 10.1109/icpr.2010.1064
• Basıldığı Şehir: İstanbul
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.4376-4379
• Bursa Uludağ Üniversitesi Adresli: Evet