An improved limit for Γee of X(3872) and Γee measurement of ψ(3686)

Ablikim, M.; Achasov, M.; Ai, X.; Albayrak, O.; Albrecht, M.; Ambrose, D.; Amoroso, A.; An, F.; An, Q.; Bai, J.; Ferroli, R.; Ban, Y.; Bennett, D.; Bennett, J.; Bertani, M.; Bettoni, D.; Bian, J.; Bianchi, F.; Boger, E.; Bondarenko, O.; Boyko, I.; Briere, R.; Cai, H.; Cai, X.; Cakir, O.; Calcaterra, A.; Cao, G.; Cetin, S.; Chang, J.; Chelkov, G.; Chen, G.; Chen, H.; Chen, H.; Chen, J.; L. Chen, M.; Chen, S.; Chen, X.; Chen, X.; Chen, Y.; Cheng, H.; Chu, X.; Cibinetto, G.; Cronin-Hennessy, D.; Dai, H.; Dai, J.; Dbeyssi, A.; Dedovich, D.; Deng, Z.; Denig, A.; Denysenko, I.; Destefanis, M.; De Mori, F.; Ding, Y.; Dong, C.; Dong, J.; Dong, L.; Dong, M.; Du, S.; Duan, P.; Fan, J.; Fang, J.; Fang, S.; Fang, X.; Fang, Y.; Fava, L.; Feldbauer, F.; Felici, G.; Feng, C.; Fioravanti, E.; Fritsch, M.; Fu, C.; Gao, Q.; Gao, X.; Gao, Y.; Gao, Z.; Garzia, I.; Geng, C.; Goetzen, K.; Gong, W.; Gradl, W.; Greco, M.; Gu, M.; Gu, Y.; Guan, Y.; Guo, A.; Guo, L.; Guo, Y.; Guo, Y.; Haddadi, Z.; Hafner, A.; Han, S.; Han, Y.; Hao, X.; Harris, F.; He, K.; He, Z.; Held, T.; Heng, Y.; Hou, Z.; Hu, C.; Hu, H.; Huaz, J.; Hu, T.; Hu, Y.; Huang, G.; Huang, G.; Huang, H.; Huang, J.; Huang, X.; Huang, Y.; Hussain, T.; Ji, Q.; Ji, Q.; Ji, X.; Ji, X.; Jiang, L.; Jiang, L.; Jiang, X.; Jiao, J.; Jiao, Z.; Jin, D.; Jin, S.; Johansson, T.; Julin, A.; Kalantar-Nayestanaki, N.; Kang, X.; Kang, X.; Kavatsyuk, M.; Ke, B.; Kliemt, R.; Kloss, B.; Kolcu, O.; Kopf, B.; Kornicer, M.; Kuehn, W.; Kupsc, A.; Lai, W.; Lange, J.; Lara, M.; Larin, P.; Leng, C.; Li, C.; Li, Cheng; Li, D.; Li, F.; Li, G.; Li, H.; Li, J.; Li, Jin; Li, K.; Li, K.; Li, Lei; Li, P.; Li, T.; Li, W.; Li, W.; Li, X.; Li, X.; Li, X.; Li, X.; Li, Z.; Liang, H.; Liang, Y.; Liang, Y.; Liao, G.; Lin, D.; Liu, B.; Liu, C.; Liu, F.; Liu, Fang; Liu, Feng; Liu, H.; Liu, H.; Liu, H.; Liu, H.; Liu, J.; Liu, J.; Liu, J.; Liu, K.; Liu, K.; Liu, L.; Liu, P.; Liu, Q.; Liu, S.; Liu, X.; Liu, X.; Liu, Y.; Liu, Z.; Liu, Zhiqiang; Liu, Zhiqing; Loehner, H.; Lou, X.; Lu, H.; Lu, J.; Lu, R.; Lu, Y.; Lu, Y.; Luo, C.; Luo, M.; Luo, T.; Luo, X.; Lv, M.; Lyu, X.; Ma, F.; Ma, H.; Ma, L.; Ma, Q.; Ma, S.; Ma, T.; Ma, X.; Ma, X.; Maas, F.; Maggiora, M.; Malik, Q.; Mao, Y.; Mao, Z.; Marcello, S.; Messchendorp, J.; Min, J.; Min, T.; Mitchell, R.; Mo, X.; Mo, Y.; Morales, C.; Moriya, K.; Muchnoi, N.; Muramatsu, H.; Nefedov, Y.; Nerling, F.; Nikolaev, I.; Ning, Z.; Nisar, S.; Niu, S.; Niu, X.; Olsen, S.; Ouyang, Q.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Pelizaeus, M.; Peng, H.; Peters, K.; Pettersson, J.; Ping, J.; Ping, R.; Poling, R.; Pu, Y.; Qi, M.; Qian, S.; Qiao, C.; Qin, L.; Qin, N.; Qin, X.; Qin, Y.; Qin, Z.; Qiu, J.; Rashid, K.; Redmer, C.; Ren, H.; Ripka, M.; Rong, G.; Ruan, X.; Santoro, V.; Sarantsev, A.; Savrie, M.; Schoenning, K.; Schumann, S.; Shan, W.; Shao, M.; Shen, C.; Shen, P.; Shen, X.; Sheng, H.; Song, W.; Song, X.; Sosio, S.; Spataro, S.; Sun, G.; Sun, J.; Sun, S.; Sun, Y.; Sun, Y.; Sun, Z.; Sun, Z.; Tang, C.; Tang, X.; Tapan, İLHAN; Thorndike, E.; Tiemens, M.; Toth, D.; Ullrich, M.; Uman, I.; Varner, G.; Wang, B.; Wang, B.; Wang, D.; Wang, D.; Wang, K.; Wang, L.; Wang, L.; Wang, M.; Wang, P.; Wang, P.; Wang, Q.; Wang, S.; Wang, W.; Wang, X.; Wang, Y.; Wang, Y.; Wang, Y.; Wang, Z.; Wang, Z.; Wang, Z.; Wang, Z.; Weber, T.; Wei, D.; Wei, J.; Weidenkaff, P.; Wen, S.; Wiedner, U.; Wolke, M.; Wu, L.; Wu, Z.; Xia, L.; Xia, Y.; Xiao, D.; Xiao, Z.; Xie, Y.; Xiu, Q.; Xu, G.; Xu, L.; Xu, Q.; Xu, Q.; Xu, X.; Yan, L.; Yan, W.; Yan, W.; Yan, Y.; Yang, H.; Yang, L.; Yang, Y.; Yang, Y.; Ye, H.; Ye, M.; Ye, M.; Yin, J.; Yu, B.; Yu, C.; Yu, H.; Yu, J.; Yuan, C.; Yuan, W.; Yuan, Y.; Yuncu, A.; Zafar, A.; Zallo, A.; Zeng, Y.; Zhang, B.; Zhang, B.; Zhang, C.; Zhang, C.; Zhang, D.; Zhang, H.; Zhang, H.; Zhang, J.; Zhang, J.; Zhang, J.; Zhang, J.; Zhang, J.; Zhang, J.; Zhang, K.; Zhang, L.; Zhang, S.; Zhang, X.; Zhang, Y.; Zhang, Y.; Zhang, Y.; Zhang, Z.; Zhang, Z.; Zhang, Z.; Zhao, G.; Zhao, J.; Zhao, J.; Zhao, J.; Zhao, Lei; Zhao, Ling; Zhao, M.; Zhao, Q.; Zhao, Q.; Zhao, S.; Zhao, T.; Zhao, Y.; Zhao, Z.; Zhemchugov, A.; Zheng, B.; Zheng, J.; Zheng, W.; Zheng, Y.; Zhong, B.; Zhou, L.; Zhou, Li; Zhou, X.; Zhou, X.; Zhou, X.; Zhou, X.; Zhu, K.; Zhu, K.; Zhu, S.; Zhu, X.; Zhu, Y.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Zhuang, J.; Zotti, L.; Zou, B.; Zou, J.

doi:10.1016/j.physletb.2015.08.013

An improved limit for Γee of X(3872) and Γee measurement of ψ(3686)

Atıf İçin Kopyala

Ablikim M., Achasov M. N., Ai X. C., Albayrak O., Albrecht M., Ambrose D. J., ...Daha Fazla

PHYSICS LETTERS B, cilt.749, ss.414-420, 2015 (SCI-Expanded)

Yayın Türü: Makale / Tam Makale
Cilt numarası: 749
Basım Tarihi: 2015
Doi Numarası: 10.1016/j.physletb.2015.08.013
Dergi Adı: PHYSICS LETTERS B
Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
Sayfa Sayıları: ss.414-420
Bursa Uludağ Üniversitesi Adresli: Hayır

Özet

Using the data sets taken at center-of-mass energies above 4 GeV by the BESIII detector at the BEPCII storage ring, we search for the reaction e(+)e(-) -> gamma(ISR) X(3872) -> gamma(ISR)pi(+)pi(-) J/psi via the Initial State Radiation technique. The production of a resonance with quantum numbers J(PC) = 1(++) such as the X(3872) via single photon e(+)e(-) annihilation is forbidden, but is allowed by a next-to-leading order box diagram. We do not observe a significant signal of X(3872), and therefore give an upper limit for the electronic width times the branching fraction Gamma B-X(3872)(ee)(X(3872) -> pi(+)pi(-) J/psi) < 0.13 eVat the 90% confidence level. This measurement improves upon existing limits by a factor of 46. Using the same final state, we also measure the electronic width of the psi(3686) to be Gamma(psi)(ee)(3686) ee = 2213 +/- 18(stat) +/- 99(sys) eV. (C) 2015 The Authors. Published by Elsevier B.V.

An improved limit for Γ<i><sub>ee</sub></i> of <i>X</i>(3872) and Γ<i><sub>ee</sub></i> measurement of ψ(3686)

Özet