Metal Sektörü için Bilgisayar Destekli Bir Hatalı Ürün Tespit Sistemi

BAYRAM R. B., YILMAZ E.

1st International Conference on Data Science and Applications (ICONDATA’18), Yalova, Türkiye, 4 - 07 Ekim 2018, ss.333-342, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Yalova
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.333-342
  • Bursa Uludağ Üniversitesi Adresli: Evet