The response of a yield monitor and combine to varying yields

Thomas S C., ARSLAN S.

5th International Conference on Precision Agriculture, Madison, WI, Amerika Birleşik Devletleri, 15 - 17 Ağustos 2000, ss.1-11

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Madison, WI
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.1-11
  • Bursa Uludağ Üniversitesi Adresli: Hayır