An Ensemble of Classifiers Approach to Steganalysis
20th International Conference on Pattern Recognition, İstanbul, Türkiye, 23 - 26 Ağustos 2010, ss.4376-4379, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Doi Numarası: 10.1109/icpr.2010.1064
- Basıldığı Şehir: İstanbul
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.4376-4379
- Bursa Uludağ Üniversitesi Adresli: Evet