Akademik Veri Yönetim Sistemi
Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Uludağ Üniversitesi, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2014
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: YUNUS EMRE FIRAT
Danışman: AHMET PEKSÖZ
Özet:Bu çalışmada ultrasonik kimyasal püskürtme yöntemiyle cam alt tabanlar üzerine 240, 280 ve 320 ± 5oC sıcaklıklarında CuxS ince filmleri büyütülmüştür. CuxS ince filmlerin yapısal, optik, yüzeysel ve elektriksel özelliklerine alttaş sıcaklığının etkisi araştırılmıştır. Üretilen ince filmlerin kalınlıklarının, 160 nm – 380 nm arasında olduğu bulundu. X-ışını kırınım desenlerinden filmlerin kübik ve hekzagonal polikristal yapıya sahip oldukları belirlenmiştir. Optik incelemeler, bu materyallerin yasak enerji aralıklarının doğrudan bant geçişli özellik sergildiğini ve enerji aralıklarının yaklaşık 2,07 eV (CuS), 2,5 eV (Cu1,765S) ve 2,28 eV (Cu1,765S – Cu2S) değerlerinde olduğunu göstermiştir. Atomik kuvvet mikroskobu ile filmlerin üç boyutlu yüzey topografileri ve yüzey pürüzlülükleri incelenmiştir. Dört nokta uçlu hall ölçüm sistemi ile filmlerin bazı elektriksel parametreleri belirlenmiştir.